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浜松InGaAsラインアレイ走査カメラC 15333-10 E 04太陽電池欠陥短波赤外線検査
SWIR（短波長赤外線）イメージングは非破壊検査の理想的な解決策である。表面の下にあるものを見ることができ、そのSWIRスペクトル特徴に基づいて材料を区別し、安全で便利な方法を提供して製品の品質を確保することができます。SWIRイメージングを生産ラインに統合するには、C 15333-10 E 04
製品の詳細
SWIR（短波長赤外線）イメージングは非破壊検査の理想的な解決策である。表面の下にあるものを見ることができ、そのSWIRスペクトル特徴に基づいて材料を区別し、安全で便利な方法を提供して製品の品質を確保することができます。SWIRイメージングを生産ラインに統合するには、C 15333-10 E InGaAsラインアレイ走査カメラのようなカメラが必要であり、その高いSWIR感度と高速なライン速度はリアルタイム、インライン非破壊検査に最適である。
特徴
●950 nmから1700 nmのSWIR感度
●1024ピクセル線形アレイ
●最大行レート：40 kHz
●インタフェース：ギガビットイーサネットを採用
●高品質画像（背景控除、リアルタイムシャドウ補正）搭載
用途
●食品と農産物（損傷検査、品質スクリーニング検査、材質鑑別など）
●半導体（シリコンウエハパターン検査、EL/PL太陽電池検出など）
●工業（含水量、漏洩検査、容器検査等）
詳細パラメータ
| 製品型番 | C15333-10E04 |
| イメージングデバイス | InGaAsアレイセンサ |
| 有効ピクセル数 | 1024 (H) × 1 (V) |
| 細胞サイズ | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
| ゆうこうめんせき | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
| フルウェル容量 | 0：4.0電子獲得1：0.76電子獲得2：0.16電子獲得3：0.16電子獲得 |
| リードスピード |
内部モード：40 kHz（21μs露光時間） エッジトリガ：20 kHz（21μs露光時間） 同期読み出し：40 kHz |
| ろしゅつじかん | 21μsから1 s（1μsステップ） |
| 外部トリガ入力 |
エッジフリップフロップ |
| 外部トリガ信号経路 |
SMAまたは12ピンHIROSEコネクタ |
| 画像処理機能 | 背景控除、リアルタイムシャドウ補正 |
| インタフェース | ギガビットイーサネット |
| A/Dコンバータ | 14ビット |
| レンズインタフェース | Cタイプインタフェース |
| 電源装置 | 直流12 V |
| 電力消費量 | 最大6 W |
| 動作環境温度 | 0℃〜+40℃ |
| ストレージ周囲温度 | -10℃〜+50℃ |
| 動作環境湿度 | 30～80%（ミスト現象なし） |
| ストレージ環境湿度 | 最大90%（むえんき現象） |
スペクトル感度特性
寸法すんぽう
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